Mỹ phạt tù nhà khoa học Trung Quốc vì đánh cắp công nghệ trị giá 1 tỷ USD

Hongjin Tan, 36 tuổi, ngày 27/2 đã bị một tòa án Mỹ phạt 2 năm tù vì đánh cắp công nghệ pin thế hệ mới từ công ty mà người này từng làm việc.

Tan có quốc tịch Trung Quốc và hiện đang là thường trú nhân ở Mỹ. Bị cáo bị bắt tháng 12/2018 và thừa nhận có tội vào tháng 11/2019. Nhà khoa học Trung Quốc thừa nhận đã cố tình sao chép và tải các dữ liệu dù chưa có sự cho phép của cấp trên. Tan được cho là sử dụng các dữ liệu này để làm lợi cho một công ty Trung Quốc đã mời Tan về làm việc

Thẩm phán Gregory Frizzell của tòa án Oklahoma đã phạt Tan 24 tháng tù liên bang và yêu cầu Tan nộp phạt 150.000 USD bồi thường cho công ty mà bị cáo đã đánh cắp công nghệ.

Theo Bộ tư pháp Mỹ, công nghệ mà Tan đánh cắp có được định giá hơn 1 tỷ USD.

“Cuộc điều tra và khởi tố này cho thấy một ví dụ về nỗ lực của Trung Quốc trong việc đánh cắp tài sản sở hữu trí tuệ Mỹ”, trợ lý Bộ trưởng Tư pháp Mỹ về an ninh quốc gia John Demers cáo buộc.

Đặc vụ FBI Melissa Godbold cho biết: “Các công ty Mỹ đầu tư lớn vào nghiên cứu công nghệ tối tân. Đánh cắp bí mật thương mại gây nguy hại cho an ninh quốc gia của chúng ta và nền kinh tế thị trường tự do”.

Tan từng làm việc với tư cách là nhà khoa học cho công ty dầu khí Phillips của Mỹ từ tháng 6/2017, cho tới khi bị bắt vào tháng 12/2018 với cáo buộc đánh cắp bí mật thương mại. Trước đó, Tan từng là trợ lý nghiên cứu và là nhà khoa học tại Viện Công nghệ California.

Công ty Phillips đã liên hệ với Cục Điều tra Liên bang Mỹ (FBI) từ tháng 12 năm ngoái để trình báo về các vụ đánh cắp bí mật thương mại. Cũng trong khoảng thời gian này, Tan nói với một đồng nghiệp cũ rằng anh ta sẽ quay trở lại Trung Quốc. Tuy nhiên, Tan đã bị bắt trước khi về nước.

Đức Hoàng

Theo Straits Times